Duetta™-荧光的未来
2020年11月18日
的HORIBADuetta二合一光谱仪是革命性的荧光光谱。它可以用作荧光计，UV-Vis-NIR光谱仪来测量吸光度，或通过同时获取荧光和吸光度来测量真实分子指纹的系统。
荧光光谱通过多通道CCD探测器获得，无需耗时的波长逐波长扫描。因此，全光谱可以在短短50毫秒内生成，比典型的荧光系统快100多倍。在收集激发发射矩阵(EEMs)时，这种速度是一个明显的优势，即在一个激发波长范围内的多个发射光谱。CCD检测器具有比台式仪器更宽的波长范围的额外优势，延长了1,100 nm。
使用这种单一系统可以进行各种测量，包括荧光发射、荧光激发、荧光动力学(强度与时间)、荧光EEM、吸光度和%透过率。EZspec软件中的应用程序集合也将这些转化为有形的结果，例如，建立浓度曲线，提供一个简单的，可定制的通过/失败例程，或使用A280方法确定蛋白质浓度。
这种二合一系统不仅在一个系统内提供了所有这些分析能力，而且它的双重性质通过自动校正内滤波效应(IFE)确保了可靠和正确的数据。没有这一点，荧光数据很容易出错!
内滤波效应(IFEs)可以显著影响荧光发射光谱剖面，扭曲其一般形状，改变峰值最大值的光谱位置并降低发射强度。因此，当用标准荧光光谱仪记录时，检测到的荧光与样品的真实荧光发射不一致，即使是小的荧光团浓度。这些荧光光谱畸变在显示、照明和生物成像应用中是至关重要的，在这些应用中，需要可靠性和精确的发射特性知识。
所有的荧光光谱仪都能观测到这种扰动。然而，Duetta凭借其双重荧光和吸光度，能够测量真正的分子指纹，实时校正IFE，所有这些都在眨眼之间!
