• 新型紫外激光扫描共聚焦显微镜

显微镜和显微技术

新型紫外激光扫描共聚焦显微镜

2006年1月27日

最近推出的LEXT共聚焦激光扫描显微镜用于超精密表面分析,奥林匹斯山现在正在运行这个新的计量系统的在线专题。动画?网络特别节目'以视觉上有趣和易于遵循的格式带观众通过LEXT的应用程序和特殊的分析能力。

网络演示演示了实时3D观察和获取高精度测量的样品,直接放置在显微镜台上,无需事先准备。这些先进的功能是可能的,因为LEXT结合了先进的彩色和激光扫描共聚焦显微镜技术。

网络专题还使观众能够评估大量的2D和3D应用图像,从汽车零件上的金属腐蚀到光晶圆制造的激光标记深度的测量。LEXT可以对通常难以使用传统方法扫描的对象进行轮廓分析,例如具有不同表面属性或倾斜区域的对象。
详细探讨了LEXT的图像处理特性,包括噪声滤波、曲线和倾斜补偿以及边缘对比度和增强。此外,还展示了其分析能力,包括粒子分析和二维、深度、体积/表面积、线宽和几何测量。

网络专题还提供了LEXT的特别开发的mems扫描仪(微机电系统)的动画解释,与传统技术相比,增加了扫描过程的速度和再现性。