• 重新扫描共聚焦显微镜研讨会宣布

显微技术

重新扫描共聚焦显微镜研讨会宣布

2019年3月27日

共焦。nl正在举办一系列关于他们的突破性技术的研讨会,再扫描共聚焦显微镜(RCM)。通过基于摄像头的检测方案,RCM提供了一个易于使用的共焦系统,具有高分辨率和灵敏度,具有成本效益,适合个人用户的需求。

总结他们的项目,共焦。nl的首席执行官Peter Drent说:“我们将演示RCM。它不仅提供共焦z切片,允许3D重建:由于我们的科学CMOS探测器,它提高了灵敏度。我们通常能达到170纳米的光学分辨率,比普通共聚焦显微镜高出40%。在实践环节中,我们将向与会者展示RCM最重要的特性:易用性!”

会议允许参与者用他们自己的样本测试系统,并有充足的时间提问。样品制备无特殊要求,只要求样品的激发波长为405、488、561或638 nm。

参加者可免费报名。要了解您所在地区何时会有研讨会,请访问Confocal。问的网站。共焦。Nl也乐于在其他地点举办工作坊。在线演示也可以安排。